部分信息表明，为保障测量的介电常数（ε）和损耗因数（tanδ）测量误差不超过±1%，校准周期不应超过6个月。另有介绍提到介电常数介质损耗试验机需每月用NIST可追溯标准件校准一次，并每季度通电2小时维持电容活性，其或许适用于测量要求严苛或高频使用的工频介电常数测量仪。同时也有一般建议指出，每年至少要校准一次，以此确保测试仪性能稳定。

 

参照JJF1139—2005《计量器具校准周期确定原则和基本方法》，校准周期的确定，需综合计量器具的自身特征、性能要求、使用状况，以及制造商的建议、使用维修记录、以往校准数据趋势等多方面因素考量。要是测量仪用于对数据精度要求高的科研实验，或常在高温、高湿度等易影响仪器性能的恶劣环境中使用，又或者使用频率颇高，那么宜缩短校准周期至6个月，甚至更短。而若其使用频率低且使用环境稳定良好，经多次校准验证性能稳定，校准周期可在合理评估后适度延长，但通常最长不宜超2年。

 

此外，实验室依据CNAS-CL01规范运作时，校准周期由实验室基于计量器具实际使用情形，依照科学、经济与量值准确原则自行判定。同时需定期开展期间核查，一旦察觉仪器有测量异?；蛭榷ㄐ郧芳训淖纯?，不管是否到校准周期，都应及时进行校准。